南方企业文化宣传网----文章编号:3411----加入日期:2011/9/6

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六西格玛管理中常用的度量指标

六西格玛管理中常用的度量指标
　　六西格玛管理中常用的度量指标有:西格玛水平Z、百万机会缺陷数DPM0、单位缺陷数DPU、首次产出率FTY、滚动产出率RTY等，它们覆盖了各种连续型和离散型测量数据的情况。这里我们重点介绍西格玛水平Z和百万机会缺陷数DPM0的统计与计算方法。
　　1.西格玛水平Z
　　对应于过程输出无偏移的情况，西格玛水平Z是指规范限与2σ的比值，可由式(6.6-1)求得:
　　〔例6.6-1]某送餐公司为某学校送午餐，学校希望在中午12:00送到，但实际总有误差，因而提出送餐的时间限定在11:55分至12:05分之间，即:TL为11:55分，TU为12:05分。过去一个星期来，该送餐公司将午餐送达的时间为:11:50，11:55，12:00，12:05，12:10求该公司准时送餐的西格玛水平。
　　这里，将送达时间按相对于目标值12:00的差值进行变换，记录为-10，-5，0，5，10则:
　　 =-10-5-0+5+10=0(即平均送达时间为12:00)

用样本标准差s估计总体标准差σ，得到 =s=7.91，将上述参数代人式6.6-1得:
即该公司准时送餐的西格玛水平为0.63
　　2.百万机会缺陷数DPMO(Defects　Per　Million　Opportunity)
　　在统计和计算DPMO时，我们先要明确下述概念:
　　(1)缺陷，是指产品、服务、或过程的输出没有达到顾客要求或超出规范规定。
　　(2)缺陷机会数，是指产品、服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的数量。如:一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会；一张申请表有15个栏目就有15个出现填表缺陷的机会。
　　如果我们统计了过程输出的缺陷数和缺陷机会数，我们就可以计算:
　　机会缺陷率DPO(Defects Per Opportunity)，即每次机会中出现缺陷的比率表示了每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例。由下式计算:
　　[例6.6-2]假定在100块电路板中，每一个电路板都含有1000个缺陷机会，若在制造这100个电路板时共发现21个缺陷。则，
当DPO以百万机会的缺陷数表示时称为DPMO，即DPMO=DPO×106，它由下式计算:
　　[例6.6-3]上例中，DPO为0.00021，DPMO为21000。
　　DPMO值可以用来综合度量过程的质量。例如，某印刷电路板的制造工厂在同一条生产线上可能生产不同规格的印刷电路板。每一种产品都有不同的设计，因此，在生产过程中，缺陷机会也不同。但是，不管生产何种规格的产品，都可以统计出现缺陷的数量和缺陷机会的数量，然后用总的缺陷的数量除以总机会数得到DPMO，即使每天的产品种类不同，我们都可以做同样的统计。
　　在六西格玛管理中常常将DPMO折算为西格玛水平Z。DPM0对应于过程输出质量特性超出规范限的比率，可以通过对如图6.6-3所示的正态分布中规范限外的部分求积分而获得。此时，标准正态分布中的分位数点Z，就是过程的西格玛水平。六西格玛管理中常用的Z换算表如表6.6-1所示。
　　〔例6.6-4]某物料清单上有4个需要填表之处，均可能会发生填写错误，即该物料清单有4个缺陷机会:
假如在1 376张物料清单上发现41个缺陷，则其
　　即每百万个机会中有7449个缺陷。查表可得该填写物料清单过程的西格玛水平约为3.95西格玛(考虑±1.5σ偏移)。
文章来源：www.5s886.com

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